機械研磨的主要目的就是將顏料聚集體分散于連結(jié)料中，使之形成細(xì)顆粒的分散體。由于顏料是決定激光防偽標(biāo)簽 易碎防偽標(biāo)簽 北京防偽標(biāo)簽 食品防偽標(biāo)簽色彩和光學(xué)特性的關(guān)鍵，所以它不僅取決于對光的擴散與吸收，且這些與它的顆粒大小也有關(guān)。例如在相對條件下，激光防偽標(biāo)簽 易碎防偽標(biāo)簽 北京防偽標(biāo)簽 食品防偽標(biāo)簽沖淡后的飽和度(著色力)、色相等均與顏料顆粒的分散度有關(guān)，這是人所共知的。 核徑跡防偽作為一項高新科技含量較高的防偽技術(shù)，它與“重離子孔防偽”一起被稱為防偽領(lǐng)域的兩個“核武器”。核徑跡防偽技術(shù)是利用核反應(yīng)堆和其它核材料對塑料薄膜進行裂片輻照，在塑料薄膜中形成徑跡損傷，然后通過成像技術(shù)形成精細(xì)的商標(biāo)標(biāo)識所需要的核徑跡孔防偽圖案。后經(jīng)過后期商品加工得到核徑跡孔防偽標(biāo)識或其它形式的核徑跡孔防偽技術(shù)產(chǎn)品。它具有科技含量高、仿造難、易識別，大量制作成本低廉，與其它技術(shù)共融性好等優(yōu)點，可謂是引導(dǎo)當(dāng)今和未來防偽發(fā)展的一個潮流。核徑跡防偽技術(shù)產(chǎn)品可進行多重識別，提高普通識別的可靠性。并具備一線、二線防偽功能。如性能優(yōu)越的一線防偽標(biāo)識高分子納米材料VCC—核徑跡防偽，只要用一滴水或水筆，普通消費者便能直接輕易檢驗商品真假。目前已在名優(yōu)煙酒、音像、書刊、名牌產(chǎn)品等的包裝商標(biāo);還在護照、證卡、票證的防偽等方面廣泛應(yīng)用。將核徑跡與激光全息技術(shù)結(jié)合，即在激光會息膜上形成的原子核跡徑防偽加密圖像，就可極大地提高激光全息膜的防偽效果。

在平行板粘度儀之間的防偽印刷所受的壓力是逐漸減少的，這是因為上板的壓力是固定不變的，而受壓面積一防偽印刷滴的直徑卻越來越大。這就是說，防偽印刷的單位面積上所受的力是隨其直徑的不斷擴大而在逐漸減少。而當(dāng)剪切應(yīng)力減少到與防偽印刷的屈服值相等時，防偽印刷的直徑就不再擴大，此時就得到了一個 直徑。由此可見，防偽印刷的屈服值和以平行板粘度儀測得的防偽印刷 直徑之間存在著函數(shù)關(guān)系，正是由于這個原因，它吸引著許多科學(xué)工作者在這個方面下了不少功夫。但是至今為止，尚無一個令人服的公式可以被人們所接受。

對觸變性結(jié)構(gòu)恢復(fù)快的防偽印刷而言，如果在測定過程中防偽印刷就能恢復(fù)結(jié)構(gòu)，則將給結(jié)果帶來誤差。平行板粘度儀除了可以測定防偽印刷的屈服值外，同時還可以測定它的斜率SI和截距I。斜率就是在用平行板粘度儀進行測定時將各個時間的防偽印刷鋪展直徑記錄下來后，通過計算就可求得的代表防偽印刷絲頭“長”“短”(斜率越大，防偽印刷越長，反之越短)的一個特性數(shù)據(jù)。

由于在防偽印刷的鋪展直徑與時間對數(shù)之間存在著線性關(guān)系，所以，如果用一系列相對應(yīng)的直徑D和時間對數(shù)log t在以直徑D(以毫米計)為縱坐標(biāo)，以時間對數(shù)10g t(以秒計)為橫坐標(biāo)的直角坐標(biāo)上作圖，把各點連起來后就可得到一條直線。這條直線可叫做D—log t直線，或者叫做防偽印刷的特性線。直線與D軸相交，如果把原點到這個交點的距離記作I，則I就是這條直線的截距。