復(fù)合絕緣一般不采用本方法測試絕緣電阻。3.導(dǎo)致盤型懸式絕緣子劣化的原因(1)溫度的影響，溫度對絕緣電阻影響很大，絕緣電阻隨溫度上升而減小。原因是溫度升高，絕緣介質(zhì)的極化加劇，電導(dǎo)增加使絕緣電阻下降，變化的原因與溫度變化程度和絕緣材料的性質(zhì)、結(jié)構(gòu)等有關(guān)。(2)濕度的影響，濕度對表面泄漏電流的影響較大，原因是絕緣表面吸附潮氣，形成水膜，會(huì)使絕緣電阻明顯下降。(3)絕緣子機(jī)械過載造成的劣化。(4)瓷件吸濕性劣化。(5)瓷件內(nèi)外應(yīng)力重疊性劣化。(6)瓷絕緣子熱膨脹造成的劣化。(7)鋼帽澆裝水泥飽和膨脹性劣化。(8)鋼帽澆裝水泥凍結(jié)膨脹性劣化。(9)鋼帽、鋼腳電腐蝕性劣化。(10)絕緣子過電壓造成的劣化。(11)絕緣子內(nèi)部缺陷造成的劣化。測量絕緣子電阻的注意：濕度較大時(shí)應(yīng)暫停測量。4.測量方法對于單元件的絕緣子，只能在停電的情況下測量其絕緣電阻，相關(guān)規(guī)程中規(guī)定，采用2500V及以上的兆歐表。目前使用較多的是2500V和5000V兆歐表，也有電壓更高的專門儀器。但實(shí)際上，在1＊104MΩ以內(nèi)，精度相同的2500V和5000V兆歐表，在相同的濕度下測量的絕緣電阻基本相同。在所測絕緣電阻大于1＊104MΩ時(shí)，2500V兆歐表無法讀出準(zhǔn)確的絕緣電阻值，只能按∞記數(shù)。而5000兆歐表則可取的大絕緣電阻可達(dá)2＊105MΩ。對于多元件組合的絕緣子，可停電、也可帶電測量其絕緣電阻。其方法是用高電阻接至帶電的絕緣子上，使測量絕緣電阻的兆歐表處于地電位，從測得的絕緣電阻中減去高電阻的電阻值，即為被測絕緣子的絕緣電阻值。帶電測量絕緣子絕緣電阻的原理接線如圖4—1所示。圖4—1中，R為高電阻桿中的電阻，阻值按10～20kΩ/V、長度按0.5～10 5kV/cm選擇，每單位電阻容量為l～2W;C為接地電容，可使兆歐表處于地電位，C的絕緣電阻應(yīng)達(dá)到兆歐表的大量限，以保證測量的準(zhǔn)確度。C的電容量為0.01～0.05μF，應(yīng)能承受3000V以上的直流電壓。5.判斷(1)針式支柱絕緣子的每一元件和每片懸式絕緣子的電阻不應(yīng)低于300MΩ。